企业简介
杭州广立微电子有限公司 main business:无 技术开发、技术服务、批发、零售：集成电路、电子产品，计算机软、硬件；货物进出口（法律、行政法规禁止经营的项目除外，法律、行政法规限制经营的项目取得许可后方可经营）；其他无需报经审批的一切合法项目 and other products. Company respected "practical, hard work, responsibility" spirit of enterprise, and to integrity, win-win, creating business ideas, to create a good business environment, with a new management model, perfect technology, attentive service, excellent quality of basic survival, we always adhere to customer first intentions to serve customers, persist in using their services to impress clients.
welcome new and old customers to visit our company guidance, my company specific address is: 杭州市西湖区华星路99号东软创业大厦A407室.
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杭州广立微电子有限公司的工商信息
- 330108000036754
- 91330108751731859U
- 存续
- 私营有限责任公司(自然人控股或私营性质企业控股)
- 2003-08-12
- 郑勇军
- 450万元人民币
- 2003-08-12 至 永久
- 杭州市高新区（滨江）市场监督管理局
- 杭州市西湖区华星路99号东软创业大厦A407室
- 无 技术开发、技术服务、批发、零售：集成电路、电子产品，计算机软、硬件；货物进出口（法律、行政法规禁止经营的项目除外，法律、行政法规限制经营的项目取得许可后方可经营）；其他无需报经审批的一切合法项目
分支机构
杭州广立微电子有限公司的商标信息
| 序号 | 注册号 | 商标 | 商标名 | 申请时间 | 商品服务列表 | 内容 |
| 1 | 10363590 |  |
TCMAGIC | 2011-12-28 | 计算机编程；计算机软件的安装；计算机软件设计 | 查看详情 |
| 2 | 10361391 |  |
DATAEXPLORER | 2011-12-27 | 计算机编程;计算机软件的安装;计算机软件设计; | 查看详情 |
| 3 | 10361377 |  |
NANOYIELD | 2011-12-27 | 计算机编程；计算机软件的安装；计算机软件设计 | 查看详情 |
| 4 | 10528567 |  |
SMT | 2012-02-24 | 测量装置;精密测量仪器;测量仪器; | 查看详情 |
| 5 | 12091583 |  |
ATCOMPILER | 2013-01-23 | 已录制的计算机程序(程序)；已录制的计算机操作程序；计算机软件(已录制)；电脑软件(录制好的)；计算机程序(可下载软件)；磁盘；软盘；CD盘(只读存储器)；计算磁盘；读出器(数据处理设备) | 查看详情 |
| 6 | 16031590 |  |
SEMITRONIX | 信息传送;计算机终端通讯;移动电话通讯;计算机辅助信息和图像传送;数字文件传送;调制解调器出租;信息传输设备出租;提供与全球计算机网络的电讯联接服务;提供数据库接入服务;电讯设备出租; | 查看详情 | |
| 7 | 12091530 |  |
SMTCELL | 2013-01-23 | 已录制的计算机程序(程序)；已录制的计算机操作程序；计算机软件(已录制)；电脑软件(录制好的)；计算机程序(可下载软件)；磁盘；软盘；CD盘(只读存储器)；计算磁盘；读出器(数据处理设备) | 查看详情 |
| 8 | 12091608 |  |
ICSPIDER | 2013-01-23 | 已录制的计算机程序(程序)；已录制的计算机操作程序；计算机软件(已录制)；电脑软件(录制好的)；计算机程序(可下载软件)；磁盘；软盘；CD盘(只读存储器)；计算磁盘；读出器(数据处理设备) | 查看详情 |
| 9 | 12091561 |  |
VIRTUALYIELD | 2013-01-23 | 已录制的计算机程序(程序)；已录制的计算机操作程序；计算机软件(已录制)；电脑软件(录制好的)；计算机程序(可下载软件)；磁盘；软盘；CD盘(只读存储器)；计算磁盘；读出器(数据处理设备) | 查看详情 |
| 10 | 12091546 |  |
DATAEXP | 2013-01-23 | 已录制的计算机程序(程序)；已录制的计算机操作程序；计算机软件(已录制)；电脑软件(录制好的)；计算机程序(可下载软件)；磁盘；软盘；CD盘(只读存储器)；计算磁盘；读出器(数据处理设备) | 查看详情 |
| 11 | 12091676 |  |
SEMITRONIX TESTER | 2013-01-23 | 电测量仪器;安培计;电流计;高频仪器;频率计;感应器(电);欧姆计;伏特计;成套电气校验装置;电气测量用稳压器; | 查看详情 |
| 12 | 16651405 |  |
ARCOMPILER | 2015-04-07 | 计算机硬件；计算机程序（可下载软件）；计算机软件（已录制）；磁盘；计算机外围设备；读出器（数据处理设备）；软盘；已录制的计算机操作程序；已录制的计算机程序（程序）；CD盘（只读存储器） | 查看详情 |
| 13 | 14054655 |  |
SEMITRONIX | 2014-02-21 | 技术研究；技术项目研究；替他人研究和开发新产品；工程学；物理研究；化学服务；生物学研究；材料测试；计算机编程；计算机软件设计； | 查看详情 |
杭州广立微电子有限公司的专利信息
| 序号 | 公布号 | 发明名称 | 公布日期 | 摘要 |
| 1 | CN103364660B | 一种目标芯片中多个晶体管的测试方法 | 2016.09.14 | 本发明涉及芯片测试领域，一种目标芯片中多个晶体管的测试方法，其特种在于：在目标芯片上自动选取自定义的 |
| 2 | CN103794597B | 可选择连接或断开待测目标芯片的测试方法 | 2017.01.04 | 本发明涉及半导体技术领域，公开了一种可选择连接或断开待测目标芯片的测试方法，测试芯片包括待测目标芯片 |
| 3 | CN105224709A | 快速产生多样化环形振荡器的方法和系统 | 2016.01.06 | 本发明提供了一种可以简单快速地生成多样化环形振荡器的方法。该方法通过生成单元模板对应基础单元，生成以 |
| 4 | CN105095594A | 基于不同测试目的而生成测试单元版图的方法 | 2015.11.25 | 本发明提供一种基于不同测试目的而生成测试单元版图的方法，包含以下步骤：在产品芯片版图上标识出待测层， |
| 5 | CN204732404U | 可寻址测试芯片用外围电路 | 2015.10.28 | 本实用新型公开了一种可寻址测试芯片用外围电路，包括寻址模块、开关电路、地址信号焊盘和测量信号焊盘，所 |
| 6 | CN102930088B | 一种产生参数化单元的方法 | 2015.10.14 | 本发明涉及一种产生参数化单元的方法，所述的方法为：（1）在图形界面上设计一个或多个参数化单元，并设定 |
| 7 | CN103150430A | 一种测试芯片版图的生成方法 | 2013.06.12 | 本发明涉及一种测试芯片版图的生成方法，包括下述步骤：先选取目标版图区域，选取后摆放一次或重复摆放多次 |
| 8 | CN104931869A | 可寻址环形振荡器测试芯片 | 2015.09.23 | 本发明提供一种可寻址环形振荡器测试芯片。所述可寻址环形振荡器测试芯片采用外围结构整体设计，包括：若干 |
| 9 | CN102928763B | 一种晶体管关键参数的可寻址测试电路及其测试方法 | 2014.12.24 | 本发明涉及一种晶体管关键参数测量的方法，尤其是涉及一种晶体管关键参数的可寻址测试电路及其测试方法。其 |
| 10 | CN103811468A | 一种可寻址测试芯片及其测试方法 | 2014.05.21 | 本发明公开了一种可寻址测试芯片及其测试方法，测试芯片包括可寻址电路、若干个测试框架和若干个测试结构组 |
| 11 | CN103794597A | 可选择连接或断开待测目标芯片的测试方法 | 2014.05.14 | 本发明涉及半导体技术领域，公开了一种可选择连接或断开待测目标芯片的测试方法，测试芯片包括待测目标芯片 |
| 12 | CN103364660A | 一种目标芯片中多个晶体管的测试方法 | 2013.10.23 | 本发明涉及芯片测试领域，一种目标芯片中多个晶体管的测试方法，其特种在于：在目标芯片上自动选取自定义的 |
| 13 | CN103366055A | 一种可寻址测试芯片版图的生成方法 | 2013.10.23 | 本发明涉及集成电路测试芯片领域，公开了一种可寻址测试芯片版图的生成方法，包括以下步骤：（1）选择IP |
| 14 | CN102928763A | 一种晶体管关键参数的可寻址测试电路及其测试方法 | 2013.02.13 | 本发明涉及一种晶体管关键参数测量的方法，尤其是涉及一种晶体管关键参数的可寻址测试电路及其测试方法。其 |
| 15 | CN102930088A | 一种产生参数化单元的方法 | 2013.02.13 | 本发明涉及一种产生参数化单元的方法，所述的方法为：（1）在图形界面上设计一个或多个参数化单元，并设定 |
| 16 | CN102130050B | 一种支持芯片位置受约束限制的多项目晶圆切割方法 | 2012.12.19 | 本发明公开了一种支持芯片位置受约束限制的多项目晶圆切割方法，根据实际生产测试要求对芯片在掩模板上进行 |
| 17 | CN102176441B | 用于物理失效分析的改进型可寻址测试芯片及制作方法 | 2012.10.03 | 本发明公开了一种用于物理失效分析的改进型可寻址测试芯片，包括测试单元、周围地址译码电路、信号选择电路 |
| 18 | CN102043884B | 一种减小版图文件大小的方法 | 2012.07.04 | 本发明公开了一种减小版图文件大小的方法，基于对大规模版图文件中的相同多边形的筛选和匹配，提出了一种用 |
| 19 | CN102176441A | 用于物理失效分析的改进型可寻址测试芯片及制作方法 | 2011.09.07 | 本发明公开了一种用于物理失效分析的改进型可寻址测试芯片，包括测试单元、周围地址译码电路、信号选择电路 |
| 20 | CN102130050A | 一种支持芯片位置受约束限制的多项目晶圆切割方法 | 2011.07.20 | 本发明公开了一种支持芯片位置受约束限制的多项目晶圆切割方法，根据实际生产测试要求对芯片在掩模板上进行 |
| 21 | CN102043884A | 一种减小版图文件大小的方法 | 2011.05.04 | 本发明公开了一种减小版图文件大小的方法，基于对大规模版图文件中的相同多边形的筛选和匹配，提出了一种用 |
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